...
Аппаратура для измерений свойств полупроводников/ЖК-подложек/слоёв
Код 9027801300:

Аппаратура для измерений свойств полупроводников/ЖК-подложек/слоёв

Описание

Специализированные установки для измерения физических свойств полупроводников, ЖК-подложек и нанесённых изолирующих/проводящих слоёв в производстве. Используются в микроэлектронике и дисплеях. НДС: 22%.

Сертификация/декларирование по коду

Подтверждение — ДС/СС ЕАЭС по 004/2011 и 020/2011; применимость RoHS — при наличии электрических модулей. Возможны отраслевые стандарты качества (чистые помещения, ESD). При статусе СИ — метрологические процедуры.